熔融制样-X射线荧光光谱法测定重晶石中的主要组分

编号：FTJS02481

篇名：熔融制样-X射线荧光光谱法测定重晶石中的主要组分

作者：曾小平； 宋武元； 吴冰；

关键词：X射线荧光光谱法； 重晶石； 熔融片；

机构： 华南理工大学分析测试中心； 广东出入境检验检疫局；

摘要： 采用熔融片制样法,X射线荧光光谱仪(XRF)同时测定防辐射用重晶石中氧化钡和二氧化硅等主次组分的含量,用基本参数法校正基体效应,并进行了方法的精密度和准确度试验,各组分相对标准偏差RSD(n=10)均小于6.0%。用标准物质进行验证,测量值与之基本一致。